產品型號：HC系列

廠商性質：生產廠家

所在地：北京市

更新日期：2024-10-29

產品簡介：

HC功能材料綜合測試系統(tǒng)

華測功能材料電學綜合測試系統(tǒng)（定制）

HC定制 絕緣材料/功能材料電學綜合測試系統(tǒng)可完成功能材料鐵電、壓電、熱釋電、介電、絕緣電阻等電學測試，以及高、低溫環(huán)境下的電學測試。與電學檢測儀器在通訊協(xié)議、數(shù)據(jù)庫處理、軟件兼容性做了大量的接口。無論在軟件與硬件方面，使本套儀器在未來更易于擴展。更加節(jié)省改造時間與硬件成本。

強大的測試功能

鐵電參數(shù)測試功能

Dynamic Hysteresis 動態(tài)電滯回線測試頻率;

Static Hysterestic 靜態(tài)電滯回線測試；

PUND 脈沖測試；

Fatigue 疲勞測試；

Retention保持力；

Imprint印跡；

Leakage current漏電流測試；

Thermo Measurement 變溫測試功能

壓電參數(shù)測試功能

可進行壓電陶瓷的準靜態(tài)d33等參數(shù)測試，也可通過高壓放大器與位移傳感器（如激光干涉儀）動態(tài)法測量壓電系數(shù)測量。

熱釋電測試功能

主要用于薄膜及塊體材料變溫的熱釋電性能測試。采用電流法進行測量材料的熱釋電電流、熱釋電系數(shù)、剩余極化強度對溫度和時間的曲線。

薄膜材料變溫范圍：-196℃到+600℃；

塊體材料變溫范圍：室溫到200℃、室溫到600℃、室溫到800℃

介電溫譜測試功能

用于分析寬頻、高低溫環(huán)境條件下功能材料的阻抗Z、電抗X、導納Y、電導G、電納B、電感L、介電損耗D、品質因數(shù)Q等物理量，同時還可以分析被測樣品隨溫度、頻率、時間、偏壓變化的曲線。也可進行壓電陶瓷的居里溫度測試。

熱激發(fā)極化電流測試儀 TSDC

用于研究材功材料性能的一些關鍵因素，諸如分子弛豫、相轉變、玻璃化溫度等等，通過TSDC技術也可以比較直觀的研究材料的弛豫時間、活化能等相關的介電特性。

絕緣電阻測試功能

高精zhun度的電壓輸出與電流測量，保障測試的品質，適用于功能材料在高溫環(huán)境材料的數(shù)據(jù)的檢測。例如：陶瓷材料、硅橡膠測試、PCB、云母、四氟材料電阻測試、也可做為科研院所新材料的高溫絕緣電阻的性能測試。

高溫四探針測試功能

符合功能材料導體、半導體材料與其它新材料在高溫環(huán)境下測試多樣化的需求。雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國A.S.T.M標準。也可應用于產品檢測以及新材料電學性能研究等用途。

塞貝克系數(shù)/電阻測量系統(tǒng)

適用于半導體，陶瓷材料，金屬材料等多種材料的多種熱電性能分析；可根據(jù)用戶需求配置薄膜測量選件，低溫選件溫度范圍-100℃到200℃，高阻選件高至10MΩ。

電卡效應測試功能

還可以用于測試材料在寬溫度范圍內的電卡性能。

溫度范圍：-50℃到200℃、熱流時間范圍：1s-1000s，

zui大電壓可達10kV，

波形：用戶自定、脈沖、三角波、正弦波、任意波形、預定義波形。

產品的三大優(yōu)勢

擴展優(yōu)勢

 本套系統(tǒng)可實現(xiàn)功能材料高低溫環(huán)境下的鐵電、壓電、熱釋電、 介電、 絕緣電阻等電學測試。 與國際電學檢測儀器在通訊協(xié)議、數(shù)據(jù)庫處理、軟件兼容性做了大量的適應性接口。 無論在軟件與硬件方面， 使本套儀器在未來更易于擴展。 更加節(jié)省改造時間 與硬件成本。

性能優(yōu)勢

 華測儀器依托多年在高壓控制、測試方面的技術成果，安全保護：增加TVS保護過壓、過流、過溫等技術，更加安全與可靠；軟件設計：借鑒國際yiliu品牌， 在測試功能、數(shù)據(jù)處理、操作等更加人性化方面做了大量的改進；保證數(shù)據(jù)的有效與真實。

研發(fā)優(yōu)勢

 研發(fā)團隊擁有多領域、 他們致力于材料電學、 電力電子、信號、測控、精密加工方面的研究， 是掌握材料電學檢測核心技術的科研團 隊！自公司成立以來獲多方科研機構、大學試驗室支待。

定制化服務

 電學試驗室擁有泰克、是德科技等國際品牌大批檢測設備；生產制造方面，公司有4軸、5軸CNC加工中心、超精磨床等一大批生產、加工設備， IS09001 國際質量體系認證，在工裝、夾具定制化方面更加方便、高效。

華測功能材料電學綜合測試系統(tǒng)（定制）

華測功能材料電學綜合測試系統(tǒng)（定制）